Woodward-Hoffmann rule in the light of the principles of maximum hardness and minimum polarizability: DFT and Ab initio SCF studies

Pratim K. Chattaraj, P. Fuentealba, Badhin Gómez, R. Contreras

Producción científica: Contribución a una revistaArtículorevisión exhaustiva

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Huella

Profundice en los temas de investigación de 'Woodward-Hoffmann rule in the light of the principles of maximum hardness and minimum polarizability: DFT and Ab initio SCF studies'. En conjunto forman una huella única.

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